דיפרקציית אלקטרונים באזור נבחר
דיפרקציית אלקטרונים באזור נבחר (SAED) היא טכניקה קריסטלוגרפית במיקרוסקופיית אלקטרונים חודרת המפיקה תבניות דיפרקציית אלקטרונים מאזורים גבישיים בגודל מיקרון או תת-מיקרון. פותחה מעקרונות יסוד של התנהגות גלי אלקטרונים ושולבה במכשירי TEM באמצע המאה ה-20, SAED מאפשרת תצפית ישירה של המרחב ההופכי, סימטריה גבישית ומבני פגמים ברזולוציה מרחבית שאינה מושגת באמצעות דיפרקציית קרני רנטגן. היא חיונית לחקר מבנה גבישי מקומי, זיהוי פאזות ואפיון חומרים ננומטריים.
קראו את השיטה במלואה
התחברו עם חשבון חינמי כדי לקרוא חלק זה.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
מקורות
- Williams, D. B., & Carter, C. B. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (2nd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-0-387-76501-3 ↗
- Cullity, B. D., & Stock, S. R. (2014). Elements of X-ray Diffraction (3rd ed.). Pearson Education. link ↗
- Hirsch, P. B., Howie, A., Nicholson, R. B., Pashley, D. W., & Whelan, M. J. (1977). Electron Microscopy of Thin Crystals (2nd ed.). Butterworths. link ↗
איך לצטט עמוד זה
ScholarGate. (2026, June 3). Selected Area Electron Diffraction (SAED). ScholarGate. https://scholargate.app/he/materials-science/selected-area-electron-diffraction
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- מיקרוסקופיית כוח אטומימדעי החומרים↔ compare
- ספקטרוסקופיית קרני רנטגן מפוזרות אנרגיהמדעי החומרים↔ compare
- ריפוי רייטבלד (Rietveld Refinement) ב-XRDמדעי החומרים↔ compare