Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root-Test
Der Im-Pesaran-Shin (IPS)-Test, 2003 von Im, Pesaran und Shin eingeführt, ist ein Panel-Unit-Root-Test für heterogene Panels, bei denen der autoregressive Koeffizient über die Querschnittseinheiten hinweg variieren darf. Er mittelt individuelle Augmented-Dickey-Fuller-(ADF)-t-Statistiken und konstruiert eine standardisierte Statistik mit einer Standardnormalverteilung als Grenzverteilung, was ihn zu einem der am häufigsten angewendeten Unit-Root-Tests der ersten Generation in der angewandten Ökonometrie macht.
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Quellen
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
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ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/de/econometrics/im-pesaran-shin-test
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