CIPS Test — Kryds-sektionelt forstærket IPS panel enhedsrodstest
CIPS-testen, introduceret af Pesaran (2007), er en anden-generations panel enhedsrodstest designet til paneler, hvor de kryds-sektionelle enheder deler uobserverede fælles faktorer, der inducerer kryds-sektionel afhængighed. Ved at forstærke hver individuel ADF regression med kryds-sektionelle gennemsnit og deres lags, tager CIPS-testen højde for denne afhængighed og producerer pålidelig inferens, hvor første-generations tests som den oprindelige IPS-test bryder sammen. Den anvendes bredt i makroøkonomiske og finansielle paneler, hvor chok forplanter sig på tværs af lande eller regioner.
Læs hele metoden
Log ind med en gratis konto for at læse dette afsnit.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Kilder
- Pesaran, M. H. (2007). A simple panel unit root test in the presence of cross-section dependence. Journal of Applied Econometrics, 22(2), 265–312. DOI: 10.1002/jae.951 ↗
Sådan citerer du denne side
ScholarGate. (2026, June 2). Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/da/econometrics/cips-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Krydssektionsmæssigt Augmenteret Dickey-Fuller (CADF) TestØkonometri↔ compare
- Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Rod TestØkonometri↔ compare
- PANIC Test: Panel Unit Root Analysis with Common Factor DecompositionØkonometri↔ compare
Refereret af
Har du fundet en fejl på denne side? Indberet den eller foreslå en rettelse →