Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Rod Test
Im-Pesaran-Shin (IPS) testen, introduceret af Im, Pesaran og Shin i 2003, er en panel-enhedstest designet til heterogene paneler, hvor den autoregressive koefficient tillades at afvige mellem tværsnitsenheder. Den gennemsnitlige individuelle Augmented Dickey-Fuller (ADF) t-statistikker og konstruerer en standardiseret statistik med en standard normal begrænsningsfordeling, hvilket gør den til en af de mest anvendte første-generations panel-enhedstests i anvendt økonometri.
Læs hele metoden
Log ind med en gratis konto for at læse dette afsnit.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Kilder
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
Sådan citerer du denne side
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/da/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Breitung Panel Unit-Root TestØkonometri↔ compare
- CIPS TestØkonometri↔ compare
- Levin-Lin-Chu (LLC) Panel Enhed Rods TestØkonometri↔ compare
Refereret af
Har du fundet en fejl på denne side? Indberet den eller foreslå en rettelse →