Process / pipelineX-ray crystallography
XRD Rietveld精修
XRD Rietveld精修是一种通过最小二乘法精修来比较观测衍射图和计算衍射图，从而从粉末衍射数据中提取详细晶体结构信息的方法。该技术由Hugo Rietveld于1969年开发，它能够直接从粉末数据中确定原子位置、占有率、热参数和物相分数，而无需单晶。它是材料表征中结构分析、物相识别和定量分析的标准方法。
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来源
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗
如何引用本页
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/zh/materials-science/xrd-rietveld-refinement
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