Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS)
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) เป็นเทคนิคสเปกโทรสโกปีรังสีเอกซ์แบบซินโครตรอนที่ใช้วัดโครงสร้างเชิงเรขาคณิตและอิเล็กทรอนิกส์เฉพาะที่รอบอะตอมเฉพาะในวัสดุผลึกหรืออสัณฐานใดๆ EXAFS ซึ่งค้นพบโดย Sayers, Stern และ Lytle ในปี 1971 สามารถเปิดเผยระยะห่างระหว่างอะตอม จำนวนการจัดเรียง และความไม่เป็นระเบียบในสภาพแวดล้อมของอะตอมได้ โดยการวิเคราะห์การแกว่งกวัดของสเปกตรัมการดูดกลืนรังสีเอกซ์เหนือขอบการดูดกลืน
อ่านวิธีฉบับเต็ม
เข้าสู่ระบบด้วยบัญชีฟรีเพื่ออ่านส่วนนี้
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
แหล่งอ้างอิง
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
วิธีอ้างอิงหน้านี้
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/th/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →