SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) is a non-parametric method for detecting differential item functioning (DIF) and differential test functioning (DTF) developed by Shealy and Stout (1993). Unlike parametric approaches, SIBTEST does not assume a particular item response model and directly tests whether groups differ in their probability of correct responses at equal levels of overall ability.
ระเบียนต้นฉบับ
การอ้างอิงถูกคัดลอกตามต้นฉบับจากระเบียนต้นฉบับของวิธีดำเนินการ ไม่มีการอ้างสิทธิ์ในระดับการตรวจสอบใด ๆ ที่อนุมานได้จากสิ่งเหล่านี้
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. · DOI 10.1007/BF02294572
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. · DOI 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. · DOI 10.1007/BF02294821
ข้อเรียกร้องที่ดูแลจัดการ
ข้อเรียกร้องถูกจัดเก็บไว้ในบัญชีแยกประเภทหลักฐาน โดยแต่ละรายการมีชุดการประเมินของตนเอง
มุมมองนี้ไม่ได้สร้างการประเมินข้อเรียกร้องขึ้นมาเมื่อบัญชีแยกประเภทไม่มี
วิธีดำเนินการที่เกี่ยวข้อง
สร้างจากกราฟวิธีดำเนินการและแสดงเป็นความสัมพันธ์ที่แนะนำโดยเครื่องจักร — ไม่มีการอ้างสิทธิ์หลักฐานใด ๆ ที่อนุมานได้