Testul IPS (Im-Pesaran-Shin) pentru rădăcină unitară în panel
Testul Im-Pesaran-Shin (IPS), introdus de Im, Pesaran și Shin în 2003, este un test pentru rădăcină unitară în panel, conceput pentru paneluri eterogene, unde coeficientul autoregresiv are permisiunea de a diferi între unitățile transversale. Acesta face media statisticilor t individuale Augmented Dickey-Fuller (ADF) și construiește o statistică standardizată cu o distribuție limită normală standard, făcându-l unul dintre cele mai aplicate teste de primă generație pentru rădăcină unitară în panel în econometria aplicată.
Citește metoda completă
Autentifică-te cu un cont gratuit pentru a citi această secțiune.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Surse
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
Cum se citează această pagină
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/ro/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Testul de rădăcină unitară pentru paneluri BreitungEconometrie↔ compare
- Testul CIPSEconometrie↔ compare
- Testul Levin-Lin-Chu (LLC) de rădăcină unitară pentru paneluriEconometrie↔ compare
Citat de
Ai observat o problemă pe această pagină? Raportează sau sugerează o corectură →