Testul CIPS — Test de rădăcină unitară IPS augmentat transversal
Testul CIPS, introdus de Pesaran (2007), este un test de rădăcină unitară de generație a doua, conceput pentru paneluri în care unitățile transversale împart factori comuni neobservați care induc dependență transversală. Prin augmentarea fiecărei regresii ADF individuale cu medii transversale și întârzierile acestora, testul CIPS ia în considerare această dependență și produce inferențe fiabile acolo unde testele de primă generație, cum ar fi testul IPS original, eșuează. Este aplicat pe scară largă în paneluri macroeconomice și financiare unde șocurile se propagă între țări sau regiuni.
Citește metoda completă
Autentifică-te cu un cont gratuit pentru a citi această secțiune.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Surse
- Pesaran, M. H. (2007). A simple panel unit root test in the presence of cross-section dependence. Journal of Applied Econometrics, 22(2), 265–312. DOI: 10.1002/jae.951 ↗
Cum se citează această pagină
ScholarGate. (2026, June 2). Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/ro/econometrics/cips-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Testul Dickey-Fuller Augmentat Transversal (CADF)Econometrie↔ compare
- Testul IPS (Im-Pesaran-Shin) pentru rădăcină unitară în panelEconometrie↔ compare
- PANICEconometrie↔ compare
Citat de
Ai observat o problemă pe această pagină? Raportează sau sugerează o corectură →