SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) é um método não paramétrico para detecção de funcionamento diferencial de itens (DIF) e funcionamento diferencial de teste (DTF) desenvolvido por Shealy e Stout (1993). Diferentemente de abordagens paramétricas, SIBTEST não assume um modelo particular de resposta ao item e testa diretamente se grupos diferem em sua probabilidade de respostas corretas em níveis iguais de habilidade geral.
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Fontes
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI: 10.1007/BF02294572 ↗
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. DOI: 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x ↗
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. DOI: 10.1007/BF02294821 ↗
Como citar esta página
ScholarGate. (2026, June 3). SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test. ScholarGate. https://scholargate.app/pt/psychometrics/sibtest
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