Geração Automática de Padrões de Teste
Geração Automática de Padrões de Teste (ATPG) é a criação automatizada de vetores de teste que detectam defeitos de fabricação em circuitos digitais. Pioneira por Roth em 1966, a ATPG encontra sistematicamente entradas que tornam falhas do tipo stuck-at observáveis nas saídas, permitindo a detecção abrangente de falhas. A ATPG é crítica para a fabricação de semicondutores: garantir alta cobertura de falhas assegura que apenas chips bons sejam enviados e identifica problemas no processo de fabricação.
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Fontes
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Como citar esta página
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/pt/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
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