SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) er en ikke-parametrisk metode for å oppdage differensiell itemfunksjon (DIF) og differensiell testfunksjon (DTF), utviklet av Shealy og Stout (1993). I motsetning til parametriske tilnærminger antar SIBTEST ingen spesiell itemresponsmodell og tester direkte om grupper skiller seg i sannsynligheten for korrekte svar ved like nivåer av total evne.
Les hele metoden
Logg inn med en gratis konto for å lese denne delen.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Kilder
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI: 10.1007/BF02294572 ↗
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. DOI: 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x ↗
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. DOI: 10.1007/BF02294821 ↗
Slik siterer du denne siden
ScholarGate. (2026, June 3). SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test. ScholarGate. https://scholargate.app/no/psychometrics/sibtest
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Kognitiv diagnostisk datamaskinadaptiv testingPsykometri↔ compare
- DINA-modellPsykometri↔ compare
- DINO-modellenPsykometri↔ compare
- Necessary Condition AnalysisPsykometri↔ compare
- RegelrommetodikkPsykometri↔ compare
Funnet en feil på denne siden? Rapporter eller foreslå en rettelse →