ScholarGate
Assistent
Process / pipelineTechnology adoption

Technostress Scale

De Technostress Scale, ontwikkeld door Tarafdar, Tu, Ragu-Nathan en collega's (2007), meet de stress en negatieve emoties die werknemers ervaren als gevolg van het gebruik van informatietechnologie op de werkplek. De schaal omvat vijf dimensies van technostress: techno-overload (excessieve werkdruk door technologische eisen), techno-invasion (onvermogen om los te koppelen van werk), techno-complexity (moeite met het beheersen van nieuwe technologie), techno-insecurity (angst voor baanverlies door automatisering) en techno-uncertainty (constante veranderingen in technologie). Technostress wordt geassocieerd met verminderde productiviteit, verhoogde burn-out en werk অন tevredenheid.

Openen in MethodMindBinnenkortApply, compare, get guidance
Tools & resources
Dia's downloaden
Learn & explore
VideoBinnenkort

Lees de volledige methode

Alleen voor leden

Log in met een gratis account om dit onderdeel te lezen.

Inloggen

Methodenkaart

De omgeving van verwante methoden — selecteer een knooppunt om te verkennen.

Bronnen

  1. Tarafdar, M., Tu, Q., Ragu-Nathan, B. S., & Ragu-Nathan, T. S. (2007). The impact of technostress on role stress and productivity. Journal of Management Information Systems, 24(1), 301-328. DOI: 10.2753/MIS0742-1222240109
  2. Ragu-Nathan, T. S., Tarafdar, M., Ragu-Nathan, B. S., & Tu, Q. (2008). The consequences of technostress for end users in organizations: Conceptual development and validation. Information Systems Research, 19(4), 417-433. DOI: 10.1287/isre.1070.0165

Deze pagina citeren

ScholarGate. (2026, June 3). Technostress Scale. ScholarGate. https://scholargate.app/nl/information-systems/technostress-scale

Welke methode?

Plaats deze methode naast haar naaste verwanten en lees ze naast elkaar — de bibliotheek legt de boeken op tafel; de keuze is aan u.

Naast elkaar vergelijken

Geciteerd door

ScholarGateTechnostress Scale (Technostress Scale). Geraadpleegd op 2026-06-17 via https://scholargate.app/nl/information-systems/technostress-scale · Gegevensset: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026