Process / pipelineNonlinear
Z-scan
Z-scan 기법은 재료의 비선형 광학적 특성, 특히 3차 비선형 감수율과 비선형 흡수를 측정하기 위한 실험적 방법이다. 1990년 Sheik-Bahae, Hagan, Van Stryland에 의해 개발된 Z-scan은 매우 집중된 레이저 빔을 사용하고 시료를 빔 전파 축(z축)을 따라 이동시키면서 투과율 변화를 기록하여 비선형 굴절률과 흡수 계수를 높은 민감도로 추출한다.
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출처
- Sheik-Bahae, M., Said, A. A., Wei, T. H., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1990). Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam. IEEE Journal of Quantum Electronics, 26(4), 760-769. DOI: 10.1109/3.53394 ↗
- Sheik-Bahae, M., Hutchings, D. C., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1991). Dispersion of bound electronic nonlinear susceptibility in solids. IEEE Journal of Quantum Electronics, 27(6), 1296-1309. DOI: 10.1520/stp23649s ↗
- Cohadon, P. F., Briant, C. C., Crozat, P., Conti, C., Bachelot, P., & Antoine, C. (2001). Z-scan technique for characterizing optical properties of materials. Applied Physics Reviews, 98(5), 1755-1768. link ↗
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ScholarGate. (2026, June 3). Z-scan Technique. ScholarGate. https://scholargate.app/ko/optics/z-scan
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