Process / pipelineX-ray crystallography
XRD Rietveld 정밀화
XRD Rietveld 정량 분석은 최소 제곱법을 통해 관측된 회절 패턴과 계산된 회절 패턴을 비교하여 분말 회절 데이터로부터 상세한 결정 구조 정보를 추출하는 방법입니다. 1969년 Hugo Rietveld가 개발한 이 기법은 단결정 없이도 분말 데이터에서 직접 원자 위치, 점유율, 열적 매개변수 및 상 분율을 결정할 수 있게 합니다. 이는 구조 분석, 상 식별 및 정량을 위한 재료 특성 분석의 표준 접근 방식입니다.
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출처
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗
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ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/ko/materials-science/xrd-rietveld-refinement
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