Process / pipelineScanning probe microscopy
원자현미경
원자현미경(AFM)은 날카로운 캔틸레버 팁과 시료 표면 간의 상호작용을 모니터링하여 나노 규모의 표면 지형 및 기계적 특성을 측정하는 주사 탐침 기술입니다. 1986년 Gerd Binnig이 주사 터널링 현미경의 확장으로 발명한 AFM은 전기 전도성이나 진공 작동을 필요로 하지 않아 사실상 모든 재료에 적용할 수 있습니다. 이 기술은 서브나노미터 수직 해상도와 나노미터에 근접하는 측면 해상도로 3차원 지형도를 제공하며, 동시에 기계적, 전기적, 화학적 특성을 측정합니다.
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출처
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
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ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/ko/materials-science/atomic-force-microscopy
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