手法証拠記録
Automatic Test Pattern Generation
Automatic Test Pattern Generation (ATPG) is the automated creation of test vectors that detect manufacturing defects in digital circuits. Pioneered by Roth in 1966, ATPG systematically finds inputs that make stuck-at faults observable at outputs, enabling comprehensive fault detection. ATPG is critical for semiconductor manufacturing: enabling high test coverage ensures only good chips ship and identifies manufacturing process issues.
出典記録
引用は手法の出典記録からそのままコピーされています。それらからレベルごとの検証は推論されません。
Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits
分類的手法記録 · process-pipeline / electrical-engineering
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. · URL
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. · DOI 10.1147/rd.104.0278
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. · URL
キュレーションされた主張
主張は証拠台帳に永続化され、それぞれが独自の評価を持っています。
まだキュレーションされた主張はありません
このビューは、台帳に主張評価がない場合、主張評価を生成しません。
関連手法
手法グラフから生成され、機械が提案した関係として表示されます — 証拠主張は推論されません。