Generazione Automatica di Pattern di Test
La Generazione Automatica di Pattern di Test (ATPG) è la creazione automatizzata di vettori di test che rilevano difetti di fabbricazione nei circuiti digitali. Introdotta da Roth nel 1966, l'ATPG trova sistematicamente input che rendono i guasti "stuck-at" osservabili agli output, consentendo una rilevazione completa dei guasti. L'ATPG è fondamentale per la produzione di semiconduttori: garantisce un'elevata copertura di test, assicurando che vengano spediti solo chip funzionanti e identificando problemi nel processo di fabbricazione.
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Fonti
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Come citare questa pagina
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/it/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
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