Automatikus Tesztminta-generálás
Az automatikus tesztminta-generálás (ATPG) a digitális áramkörök gyártási hibáit detektáló tesztvektorok automatizált létrehozása. Roth úttörő munkája 1966-ban lefektette az ATPG alapjait, amely szisztematikusan olyan bemeneteket talál, amelyek a "stuck-at" hibákat megfigyelhetővé teszik a kimeneteken, lehetővé téve az átfogó hibadetektálást. Az ATPG kritikus fontosságú a félvezetőgyártásban: a magas tesztlefedettség biztosítja, hogy csak jó chipek kerüljenek kiszállításra, és azonosítja a gyártási folyamat problémáit.
A teljes módszer elolvasása
Jelentkezzen be ingyenes fiókkal a szakasz elolvasásához.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Források
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Hogyan hivatkozzon erre az oldalra
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/hu/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Logikai szintézisVillamosmérnöki tudomány↔ compare
- Monte Carlo FolyamatvarianciaVillamosmérnöki tudomány↔ compare
- Statikus időzítésanalízisVillamosmérnöki tudomány↔ compare
Hivatkozik rá
Hibát talált ezen az oldalon? Jelentse, vagy javasoljon javítást →