מבחן CIPS — מבחן שורש יחידה בפאנל מורחב חוצה-חתך (Cross-sectionally Augmented IPS Panel Unit-Root Test)
מבחן ה-CIPS, שהוצג על ידי Pesaran (2007), הוא מבחן שורש יחידה מהדור השני עבור פאנלים שבהם היחידות חוצות-החתך חולקות גורמים משותפים בלתי נצפים המשרים תלות חוצה-חתך. על ידי הרחבת רגרסיית ADF של כל יחידה בנפרד עם ממוצעים חוצי-חתך והפיגורים שלהם, מבחן ה-CIPS מתחשב בתלות זו ומפיק הסקה אמינה כאשר מבחנים מהדור הראשון, כגון מבחן IPS המקורי, נכשלים. הוא מיושם באופן נרחב בפאנלים מאקרו-כלכליים ופיננסיים שבהם זעזועים מתפשטים בין מדינות או אזורים.
קראו את השיטה במלואה
התחברו עם חשבון חינמי כדי לקרוא חלק זה.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
מקורות
- Pesaran, M. H. (2007). A simple panel unit root test in the presence of cross-section dependence. Journal of Applied Econometrics, 22(2), 265–312. DOI: 10.1002/jae.951 ↗
איך לצטט עמוד זה
ScholarGate. (2026, June 2). Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/he/econometrics/cips-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- מבחן ה-Cross-sectionally Augmented Dickey-Fuller (CADF)אקונומטריקה↔ compare
- מבחן שורש יחידה פאנלי של Im-Pesaran-Shin (IPS)אקונומטריקה↔ compare
- PANIC Test: Panel Unit Root Analysis with Common Factor Decompositionאקונומטריקה↔ compare