מבחן שורש יחידה פאנלי של Im-Pesaran-Shin (IPS)
מבחן Im-Pesaran-Shin (IPS), שהוצג על ידי Im, Pesaran ו-Shin בשנת 2003, הוא מבחן שורש יחידה פאנלי המיועד לפאנלים הטרוגניים שבהם מקדם האוטו-רגרסיה רשאי להשתנות בין יחידות חתך. הוא ממוצע את סטטיסטיקות ה-t האינדיבידואליות של Augmented Dickey-Fuller (ADF) ובונה סטטיסטיקה מתוקננת בעלת התפלגות גבולית נורמלית סטנדרטית, מה שהופך אותו לאחד ממבחני שורש היחידה הפאנליים מהדור הראשון הנפוצים ביותר באקונומטריקה יישומית.
קראו את השיטה במלואה
התחברו עם חשבון חינמי כדי לקרוא חלק זה.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
מקורות
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
איך לצטט עמוד זה
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/he/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- מבחן שורש יחידה פאנלי של ברייטינגאקונומטריקה↔ compare
- מבחן CIPSאקונומטריקה↔ compare
- מבחן שורש יחידה בפאנל של לווין-לין-צ'ו (LLC)אקונומטריקה↔ compare