Génération Automatique de Vecteurs de Test
La génération automatique de vecteurs de test (ATPG) est la création automatisée de vecteurs de test qui détectent les défauts de fabrication dans les circuits numériques. Pionnière par Roth en 1966, l'ATPG trouve systématiquement des entrées qui rendent les défauts de type « stuck-at » observables aux sorties, permettant une détection complète des défauts. L'ATPG est essentielle pour la fabrication des semi-conducteurs : une couverture de test élevée garantit que seules les puces conformes sont expédiées et identifie les problèmes du processus de fabrication.
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Sources
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Comment citer cette page
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/fr/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
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