آزمون CIPS — آزمون ریشه واحد پنل مقطعی افزوده شده IPS
آزمون CIPS که توسط Pesaran (2007) معرفی شد، یک آزمون ریشه واحد پنل نسل دوم است که برای پنلهایی طراحی شده است که در آنها واحدهای مقطعی، عوامل مشترک مشاهدهنشدهای را به اشتراک میگذارند که وابستگی مقطعی را القا میکنند. با افزودن میانگینهای مقطعی و وقفههای آنها به هر رگرسیون ADF فردی، آزمون CIPS این وابستگی را در نظر میگیرد و استنتاج قابل اعتمادی را تولید میکند که در آن آزمونهای نسل اول مانند آزمون اصلی IPS شکست میخورند. این آزمون به طور گسترده در پنلهای اقتصاد کلان و مالی که شوکها در سراسر کشورها یا مناطق منتشر میشوند، کاربرد دارد.
مطالعهٔ کامل روش
برای خواندن این بخش با حساب رایگان وارد شوید.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
منابع
- Pesaran, M. H. (2007). A simple panel unit root test in the presence of cross-section dependence. Journal of Applied Econometrics, 22(2), 265–312. DOI: 10.1002/jae.951 ↗
نحوهٔ استناد به این صفحه
ScholarGate. (2026, June 2). Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/fa/econometrics/cips-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- آزمون چولگی افزوده مقطعی (CADF)اقتصادسنجی↔ compare
- آزمون ریشه واحد پنل ایم-پساران-شین (IPS)اقتصادسنجی↔ compare
- آزمون PANIC: تحلیل ریشهی واحد پنل با تجزیه عامل مشترکاقتصادسنجی↔ compare
ارجاعشده در
در این صفحه مشکلی دیدید؟ گزارش دهید یا اصلاحی پیشنهاد کنید →