ScholarGate
دستیار
Hypothesis testPanel unit-root tests (2nd gen)

آزمون PANIC: تحلیل ریشه‌ی واحد پنل با تجزیه عامل مشترک

PANIC (تحلیل پنل عدم ایستایی در مولفه‌های مشخصه و مشترک) یک آزمون ریشه‌ی واحد پنل نسل دوم است که توسط بای و نگ (۲۰۰۴) معرفی شد. این آزمون هر سری پنل را به عوامل مشترک و مولفه‌های مشخصه تجزیه می‌کند، سپس به طور جداگانه برای ریشه‌های واحد در هر بخش آزمون می‌کند، که آن را در برابر وابستگی مقطعی مقاوم می‌سازد – یک محدودیت حیاتی آزمون‌های نسل اول مانند IPS یا LLC.

به‌کارگیری با EconMindبه‌زودیویدیوبه‌زودیDownload slides

مطالعهٔ کامل روش

ویژهٔ اعضا

برای خواندن این بخش با حساب رایگان وارد شوید.

ورود

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

آزمون PANIC: تحلیل ریشه‌ی واحد پنل با تجزیه عامل مشترک
آزمون چولگی افزوده مقطعی…آزمون CIPSمدل عامل پویا

منابع

  1. Bai, J., & Ng, S. (2004). A PANIC attack on unit roots and cointegration. Econometrica, 72(4), 1127–1177. DOI: 10.1111/j.1468-0262.2004.00528.x

نحوهٔ استناد به این صفحه

ScholarGate. (2026, June 2). PANIC: Panel Analysis of Non-stationarity in Idiosyncratic and Common Components. ScholarGate. https://scholargate.app/fa/econometrics/panic-test

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

ارجاع‌شده در

ScholarGatePANIC (PANIC: Panel Analysis of Non-stationarity in Idiosyncratic and Common Components). بازیابی‌شده در 2026-06-15 از https://scholargate.app/fa/econometrics/panic-test · مجموعه‌داده: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026