آزمون ریشه واحد پنل ایم-پساران-شین (IPS)
آزمون ایم-پساران-شین (IPS)، که توسط ایم، پساران و شین در سال ۲۰۰۳ معرفی شد، یک آزمون ریشه واحد پنل است که برای پنلهای ناهمگن طراحی شده است، جایی که ضریب خودرگرسیو مجاز است در واحدهای مقطعی متفاوت باشد. این آزمون میانگین آمارههای t انفرادی دیکی-فولر افزوده (ADF) را محاسبه کرده و یک آماره استاندارد شده با توزیع حدی نرمال استاندارد میسازد، که آن را به یکی از پرکاربردترین آزمونهای ریشه واحد پنل نسل اول در اقتصاد سنجی کاربردی تبدیل کرده است.
مطالعهٔ کامل روش
برای خواندن این بخش با حساب رایگان وارد شوید.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
منابع
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
نحوهٔ استناد به این صفحه
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/fa/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- آزمون ریشه واحد پانل برویتونگاقتصادسنجی↔ compare
- آزمون CIPSاقتصادسنجی↔ compare
- آزمون ریشه واحد پنل لوین-لین-چو (LLC)اقتصادسنجی↔ compare
ارجاعشده در
در این صفحه مشکلی دیدید؟ گزارش دهید یا اصلاحی پیشنهاد کنید →