Im-Pesaran-Shin (IPS) paneeli ühikujuurtuvuse test
Im, Pesaran ja Shin 2003. aastal esitletud Im-Pesaran-Shin (IPS) test on paneeli ühikujuurtuvuse test, mis on kavandatud heterogeensete paneelide jaoks, kus autoregressiivne koefitsient võib erinevate ristlõikeüksuste vahel erineda. See keskmistab üksikute täiendatud Dickey-Fulleri (ADF) t-statistiliste väärtuste keskmist ja konstrueerib standardiseeritud statistilise väärtuse standardse normaaljaotusega piirjaotusega, muutes selle üheks enimkasutatud esimese põlvkonna paneeli ühikujuurtuvuse testiks rakendusökonomeetrias.
Loe meetodi täielikku kirjeldust
Selle osa lugemiseks logi sisse tasuta kontoga.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Allikad
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
Kuidas sellele lehele viidata
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/et/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Breitungi paneeli ühikujuuri testÖkonomeetria↔ compare
- CIPS-testÖkonomeetria↔ compare
- Levin-Lin-Chu (LLC) paneeli ühikujuurtuvustuse testÖkonomeetria↔ compare
Sellele viitavad
Märkasid sellel lehel viga? Teata sellest või paku parandust →