CIPS-test — Risti-lõiguti täiendatud IPS-i paneeli ühikujuurtesti
CIPS-test, mille võttis kasutusele Pesaran (2007), on teise põlvkonna paneeli ühikujuurtesti, mis on loodud paneelide jaoks, kus ristlõikeline üksused jagavad täheldamatuid ühiseid faktoreid, mis põhjustavad ristlõikelist sõltuvust. Täiendades iga üksik ADF-regressiooni ristlõikepõhiste keskmiste ja nende viivitustega, arvestab CIPS-test selle sõltuvusega ja annab usaldusväärse järelduse, kus esimese põlvkonna testid, nagu originaal IPS-test, ebaõnnestuvad. Seda kasutatakse laialdaselt makroökonoomilistes ja finantspaneelides, kus šokid levivad riikide või piirkondade vahel.
Loe meetodi täielikku kirjeldust
Selle osa lugemiseks logi sisse tasuta kontoga.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Allikad
- Pesaran, M. H. (2007). A simple panel unit root test in the presence of cross-section dependence. Journal of Applied Econometrics, 22(2), 265–312. DOI: 10.1002/jae.951 ↗
Kuidas sellele lehele viidata
ScholarGate. (2026, June 2). Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/et/econometrics/cips-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Risti-lõiguti täiendatud Dickey-Fulleri (CADF) testÖkonomeetria↔ compare
- Im-Pesaran-Shin (IPS) paneeli ühikujuurtuvuse testÖkonomeetria↔ compare
- PANIC-test: Paneeliühikujuuri analüüs ühiste tegurite dekompositsioonigaÖkonomeetria↔ compare
Sellele viitavad
Märkasid sellel lehel viga? Teata sellest või paku parandust →