Variación de Procesos Monte Carlo
El análisis de Variación de Procesos Monte Carlo cuantifica el impacto de las incertidumbres de fabricación en el rendimiento del circuito mediante muestreo estadístico. A medida que la tecnología de semiconductores escala, las variaciones de proceso (longitud de puerta, espesor de óxido, fluctuaciones de dopantes) crean incertidumbres significativas en el retardo, la potencia y la fuga. Los métodos Monte Carlo muestrean el espacio de variación aleatoria, permitiendo la caracterización estadística del rendimiento (yield), los márgenes de temporización y la fiabilidad. Esencial para los nodos de tecnología modernos.
Leer el método completo
Inicia sesión con una cuenta gratuita para leer esta sección.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Fuentes
- Fishman, G. S. (1996). Monte Carlo: Concepts, Algorithms, and Applications. Springer-Verlag. DOI: 10.1007/978-1-4757-2553-7 ↗
- Nassif, S. R. (2003). Modeling and analysis of manufacturing variations. In Proc. CICC (pp. 223-228). IEEE. DOI: 10.1109/cicc.2001.929760 ↗
- Agarwal, A., Blaauw, D., Zolotov, V., & Sundareswaran, S. (2005). Statistical timing analysis with dual-Vth devices. IEEE Transactions on VLSI Systems, 13(3), 319-328. link ↗
Cómo citar esta página
ScholarGate. (2026, June 3). Monte Carlo Analysis of Semiconductor Process Variations. ScholarGate. https://scholargate.app/es/electrical-engineering/monte-carlo-process-variation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Generación Automática de Patrones de PruebaIngeniería eléctrica↔ compare
- Síntesis LógicaIngeniería eléctrica↔ compare
- Análisis Estático de TiemposIngeniería eléctrica↔ compare
Citado por
¿Has visto un problema en esta página? Infórmanos o sugiere una corrección →