Generación Automática de Patrones de Prueba
La Generación Automática de Patrones de Prueba (ATPG, por sus siglas en inglés) es la creación automatizada de vectores de prueba que detectan defectos de fabricación en circuitos digitales. Pionera por Roth en 1966, la ATPG encuentra sistemáticamente entradas que hacen que las fallas de tipo "stuck-at" (fijado a 0 o 1) sean observables en las salidas, permitiendo una detección exhaustiva de fallas. La ATPG es fundamental para la fabricación de semiconductores: lograr una alta cobertura de fallas asegura que solo se envíen chips funcionales e identifica problemas en el proceso de fabricación.
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Fuentes
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Cómo citar esta página
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/es/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
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