Test de raíz unitaria de panel Im-Pesaran-Shin (IPS)
La prueba IPS, introducida por Im, Pesaran y Shin en 2003, es una prueba de raíz unitaria de panel diseñada para paneles heterogéneos donde el coeficiente autorregresivo puede diferir entre las unidades transversales. Promedia las estadísticas t individuales de Augmented Dickey-Fuller (ADF) y construye una estadística estandarizada con una distribución límite normal estándar, lo que la convierte en una de las pruebas de raíz unitaria de panel de primera generación más aplicadas en la econometría aplicada.
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Fuentes
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
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ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/es/econometrics/im-pesaran-shin-test
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