Prueba CIPS — Prueba de raíz unitaria de panel IPS aumentada transversalmente

La prueba CIPS, introducida por Pesaran (2007), es una prueba de raíz unitaria de panel de segunda generación diseñada para paneles en los que las unidades transversales comparten factores comunes no observados que inducen dependencia transversal. Al aumentar cada regresión ADF individual con promedios transversales y sus rezagos, la prueba CIPS tiene en cuenta esta dependencia y produce inferencias fiables donde las pruebas de primera generación, como la prueba IPS original, fallan. Se aplica ampliamente en paneles macroeconómicos y financieros donde los shocks se propagan entre países o regiones.