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Latent structureItem Bias Detection

SIBTEST

SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) ist eine nicht-parametrische Methode zur Detektion von Differential Item Functioning (DIF) und Differential Test Functioning (DTF), entwickelt von Shealy und Stout (1993). Im Gegensatz zu parametrischen Ansätzen nimmt SIBTEST kein bestimmtes Item-Response-Modell an und prüft direkt, ob sich Gruppen in ihrer Wahrscheinlichkeit korrekter Antworten bei gleichen Gesamtfähigkeitsniveaus unterscheiden.

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Quellen

  1. Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI: 10.1007/BF02294572
  2. Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. DOI: 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x
  3. Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. DOI: 10.1007/BF02294821

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ScholarGate. (2026, June 3). SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test. ScholarGate. https://scholargate.app/de/psychometrics/sibtest

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ScholarGateSIBTEST (SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test). Abgerufen am 2026-06-15 von https://scholargate.app/de/psychometrics/sibtest · Datensatz: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026