Automatisk Testmønstergenerering
Automatisk Testmønstergenerering (ATPG) er den automatiserede oprettelse af testvektorer, der detekterer fabrikationsfejl i digitale kredsløb. ATPG, der blev banebrydende af Roth i 1966, finder systematisk input, der gør "stuck-at"-fejl observerbare ved output, hvilket muliggør omfattende fejldetektering. ATPG er afgørende for halvlederfremstilling: høj testdækning sikrer, at kun gode chips sendes ud, og identificerer problemer i fremstillingsprocessen.
Læs hele metoden
Log ind med en gratis konto for at læse dette afsnit.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Kilder
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Sådan citerer du denne side
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/da/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Logic SynthesisElektroteknik↔ compare
- Monte Carlo ProcesvariationElektroteknik↔ compare
- Statisk tidsanalyseElektroteknik↔ compare
Refereret af
Har du fundet en fejl på denne side? Indberet den eller foreslå en rettelse →