স্বয়ংক্রিয় পরীক্ষা প্যাটার্ন তৈরি
স্বয়ংক্রিয় পরীক্ষা প্যাটার্ন তৈরি (ATPG) হলো ডিজিটাল সার্কিটে উৎপাদন ত্রুটি সনাক্তকারী পরীক্ষা ভেক্টরগুলির স্বয়ংক্রিয় সৃষ্টি। ১৯৬৬ সালে Roth কর্তৃক অগ্রণী ভূমিকা পালিত, ATPG পদ্ধতিগতভাবে এমন ইনপুট খুঁজে বের করে যা স্টাক-অ্যাট ফল্টগুলিকে আউটপুটে পর্যবেক্ষণযোগ্য করে তোলে, যার ফলে ব্যাপক ফল্ট সনাক্তকরণ সম্ভব হয়। সেমিকন্ডাক্টর উৎপাদনে ATPG অত্যন্ত গুরুত্বপূর্ণ: উচ্চ পরীক্ষা কভারেজ নিশ্চিত করে যে কেবল ভালো চিপই পাঠানো হয় এবং উৎপাদন প্রক্রিয়ার সমস্যাগুলি চিহ্নিত করে।
পুরো পদ্ধতিটি পড়ুন
এই অংশটি পড়তে বিনামূল্যের অ্যাকাউন্ট দিয়ে সাইন ইন করুন।
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
উৎস
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
এই পৃষ্ঠা কীভাবে উদ্ধৃত করবেন
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/bn/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- লজিক সিন্থেসিসতড়িৎ প্রকৌশল↔ compare
- মন্টে কার্লো প্রসেস ভ্যারিয়েশনতড়িৎ প্রকৌশল↔ compare
- স্ট্যাটিক টাইমিং অ্যানালাইসিসতড়িৎ প্রকৌশল↔ compare
যেখানে উদ্ধৃত
এই পৃষ্ঠায় কোনো ত্রুটি চোখে পড়েছে? জানান বা সংশোধনের প্রস্তাব দিন →