Process / pipelineOrthodontics
正畸头影测量
正畸头影测量是一种标准化的放射线照相技术,通过固定的射线源到胶片距离和患者体位,生成侧位或后前位颅骨X光片。该技术由本杰明·布罗德本特于1931年引入,头影测量分析能够系统地测量骨骼和牙齿关系,以评估错𬌗畸形、规划治疗并监测生长和治疗变化。该技术仍然是正畸诊断和治疗计划的基础。
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来源
- Broadbent, B. H. (1931). A new x-ray technique and its application to orthodontia. Angle Orthodontist, 1(2), 45-66. link ↗
- Downs, W. B. (1948). Variations in facial relationships: their anatomical and dental significance. American Journal of Orthodontics, 34(10), 812-840. link ↗
- McNamara Jr, J. A. (1984). A method of cephalometric evaluation. American Journal of Orthodontics, 86(6), 449-469. DOI: 10.1016/s0002-9416(84)90352-x ↗
如何引用本页
ScholarGate. (2026, June 3). Cephalometric Analysis for Orthodontics. ScholarGate. https://scholargate.app/zh/dentistry/orthodontic-cephalometry
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