SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) — це непараметричний метод для виявлення диференційованого функціонування елемента (DIF) та диференційованого функціонування тесту (DTF), розроблений Shealy та Stout (1993). На відміну від параметричних підходів, SIBTEST не припускає певної моделі реакції на елемент і безпосередньо перевіряє, чи відрізняються групи за ймовірністю правильних відповідей при однакових рівнях загальних здібностей.
Читати метод повністю
Увійдіть із безкоштовним обліковим записом, щоб прочитати цей розділ.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Джерела
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI: 10.1007/BF02294572 ↗
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. DOI: 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x ↗
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. DOI: 10.1007/BF02294821 ↗
Як цитувати цю сторінку
ScholarGate. (2026, June 3). SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test. ScholarGate. https://scholargate.app/uk/psychometrics/sibtest
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Когнітивне діагностичне комп'ютеризоване адаптивне тестуванняПсихометрія↔ compare
- Модель DINAПсихометрія↔ compare
- Модель DINOПсихометрія↔ compare
- Аналіз необхідних умовПсихометрія↔ compare
- Методологія простору правилПсихометрія↔ compare
Помітили помилку на цій сторінці? Повідомте про неї або запропонуйте виправлення →