XRD Rietveld Refinement
XRD Rietveld Refinement is a method for extracting detailed crystal structure information from powder diffraction data by comparing observed and calculated diffraction patterns through least-squares refinement. Developed by Hugo Rietveld in 1969, this technique enables determination of atomic positions, occupancies, thermal parameters, and phase fractions directly from powder data without requiring single crystals. It is the standard approach in materials characterization for structural analysis, phase identification, and quantification.
Запис джерела
Цитати скопійовано дослівно з вихідного запису методу. Вони не передбачають перевірки на рівні тверджень.
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. · DOI 10.1107/S0021889869006558
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. · URL
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. · DOI 10.1016/0921-4526(93)90108-I
Відібрані твердження
Твердження збережено в журналі доказів, кожне зі своєю оцінкою.
Цей перегляд не вигадує оцінку твердження, якщо в журналі її немає.
Пов'язані методи
Згенеровано з графа методів і показано як рекомендовані системою зв'язки — жодне твердження доказів не передбачається.