Im-Pesaran-Shin Test
The Im-Pesaran-Shin (IPS) test, introduced by Im, Pesaran, and Shin in 2003, is a panel unit-root test designed for heterogeneous panels where the autoregressive coefficient is allowed to differ across cross-sectional units. It averages individual Augmented Dickey-Fuller (ADF) t-statistics and constructs a standardized statistic with a standard normal limiting distribution, making it one of the most widely applied first-generation panel unit-root tests in applied econometrics.
Запис джерела
Цитати скопійовано дослівно з вихідного запису методу. Вони не передбачають перевірки на рівні тверджень.
Відібрані твердження
Твердження збережено в журналі доказів, кожне зі своєю оцінкою.
Цей перегляд не вигадує оцінку твердження, якщо в журналі її немає.
Пов'язані методи
Згенеровано з графа методів і показано як рекомендовані системою зв'язки — жодне твердження доказів не передбачається.