Автоматична генерація тестових шаблонів
Автоматична генерація тестових шаблонів (ATPG) — це автоматизоване створення тестових векторів, які виявляють виробничі дефекти в цифрових схемах. Започаткована Ротом у 1966 році, ATPG систематично знаходить вхідні сигнали, що роблять "залипаючі" несправності (stuck-at faults) спостережуваними на виходах, забезпечуючи комплексне виявлення несправностей. ATPG є критично важливою для виробництва напівпровідників: забезпечення високого тестового покриття гарантує, що лише якісні мікросхеми потрапляють до споживача, а також виявляє проблеми виробничого процесу.
Читати метод повністю
Увійдіть із безкоштовним обліковим записом, щоб прочитати цей розділ.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Джерела
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Як цитувати цю сторінку
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/uk/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Логічний синтезЕлектротехніка↔ compare
- Варіативність технологічних процесів Монте-КарлоЕлектротехніка↔ compare
- Статичний аналіз часуЕлектротехніка↔ compare
Згадується в
Помітили помилку на цій сторінці? Повідомте про неї або запропонуйте виправлення →