İçeriğe geçScholarGate
KütüphaneKitaplığımMasaReview StudioAsistan
Giriş
Bu sayfada
SezgiNasıl çalışırNe zaman kullanılırGüçlü yönler & sınırlılıklarYaygın tuzaklarUygulamalarSSS🔒 Tam yöntemi okuKaynaklarİlişkili yöntemler
Bu sayfaya atıf yapBu sayfada bir hata mı var? Bildir / düzeltme öner →
Ana sayfa›Spektroskopi›EXAFS
Process / pipelineX-ray Spectroscopy

EXAFS

Extended X-ray Absorption Fine Structure · Ayrıca şöyle bilinir: EXAFS spectroscopy, X-ray absorption spectroscopy

Genişletilmiş X-ışını Soğurma İnce Yapısı (EXAFS), kristal veya amorf herhangi bir malzemedeki belirli bir atomun etrafındaki yerel geometrik ve elektronik yapıyı ölçen senkrotron tabanlı bir X-ışını spektroskopi tekniğidir. Sayers, Stern ve Lytle tarafından 1971'de keşfedilen EXAFS, bir soğurma kenarının üzerindeki X-ışını soğurma spektrumundaki salınımları analiz ederek atomlar arası mesafeleri, koordinasyon sayılarını ve atomik çevredeki düzensizliği ortaya çıkarır.

ScholarGate
  1. Process / pipeline
  2. v1
  3. 2 Kaynaklar
  4. PUBLISHED
Bu sayfaya atıf yap →
Araçlar & kaynaklar
Slaytları indir
Öğren & keşfet

Tam yöntemi oku

Yalnızca üyeler

Bu bölümü okumak için ücretsiz hesapla giriş yapın.

Giriş yap

Yöntem haritası

İlişkili yöntemlerin komşuluğu — keşfetmek için bir düğüm seçin.

EXAFS
ATR-FTIRKSA (Küçük Açılı X-ışını…XANESYapılandırma EtkileşimiYoğun Madde Matrisi Yeni…

Ne zaman kullanılır

EXAFS'ı, uzun menzilli kristalliğin bulunmadığı veya önemsiz olduğu malzemelerde yerel atomik yapıyı belirlemek için uygulayın: amorf katalizörler, camlar, düzensiz alaşımlar ve proteinler ile enzimlerdeki metal bölgeleri. EXAFS element seçicidir ve ilk ve ikinci koordinasyon kürelerini inceler. Bir senkrotron ışın hattına erişim gerektirir.

Güçlü yönler & sınırlılıklar

Güçlü yönler
  • Elemente özgü: diğer elementlerin girişimini önleyerek bir atom türünü seçer
  • Kristalliğe gerek yok: kristaller, camlar ve amorf malzemeler için eşit derecede iyi çalışır
  • Koordinasyon geometrisi ortaya çıkar: tek bir taramadan çıkarılan mesafeler ve koordinasyon sayıları
  • Yerel yapı bilgisi: soğuran atomun etrafındaki 1-3 Ångström'ü inceler
Sınırlılıklar
  • Senkrotron radyasyonu gerektirir; ışın hattı erişimi sınırlı ve pahalıdır
  • Düşük-Z elementleri (< Ca): EXAFS sinyalleri daha zayıf; hafif atomlar için teknik daha az hassastır
  • Benzer atomlar yakın yerleri işgal ettiğinde yorumlama belirsizdir
  • Yüksek enerjilerde çoklu saçılma, ağır atomlar ve geniş mesafeler için analizi karmaşıklaştırır

SSS

EXAFS ve XANES arasındaki fark nedir?

XANES (X-ışını Soğurma Yakın Kenar Yapısı), soğurma kenarının yaklaşık 50 eV içindeki bölgeyi inceler ve oksidasyon durumunu ve yerel simetriyi ortaya çıkarır. EXAFS, kenarın üzerindeki 50-1000 eV'yi inceler ve atom mesafelerini ve koordinasyon sayılarını ortaya çıkarır. XANES daha düşük uzamsal çözünürlüğe sahiptir ancak ölçümü daha hızlıdır.

EXAFS koordinasyon sayısını nasıl belirler?

EXAFS'taki salınımların genliği, belirli bir mesafedeki saçıcı atomların sayısıyla orantılıdır. Teorik modellerin verilere uydurulması, her mesafe kabuğundaki koordinasyon sayısını (komşu sayısı) verir.

EXAFS aynı mesafedeki farklı atomları ayırt edebilir mi?

Mükemmel değil, ancak farklı atom numaralarına sahip elementler X-ışınlarını farklı güçler ve faz kaymalarıyla saçar. Dikkatli analiz ve referans bileşiklerle karşılaştırma ile komşu atom türlerini kısmen ayırt etmek mümkündür. X-ışını kırınımı kesin element tanımlaması sağlar.

Kaynaklar

  1. Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
  2. Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗

Bu sayfayı kaynak gösterin

ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/tr/spectroscopy/exafs

İlişkili yöntemler

ATR-FTIRKSA (Küçük Açılı X-ışını Saçılımı)XANES

Hangi yöntem?

Bu yöntemi en yakın akrabalarının yanına koyup yan yana okuyun — kütüphane kitapları masaya serer; seçim sizindir.

  • ATR-FTIRSpektroskopi↔ karşılaştır
  • KSA (Küçük Açılı X-ışını Saçılımı)Spektroskopi↔ karşılaştır
  • XANESSpektroskopi↔ karşılaştır
Yan yana karşılaştır →

Bu yönteme atıf yapanlar

Yapılandırma EtkileşimiYoğun Madde Matrisi Yeniden Normalleştirme Grubu (DMRG)KSA (Küçük Açılı X-ışını Saçılımı)XANES

Benzer yöntemler

XANESKristalografi (X-ışını kırınımı)Enerji Dağılımlı X-ışını SpektroskopisiX-ışını Fotoelektron SpektroskopisiXRD Rietveld İyileştirmesiSeçilmiş Alan Elektron KırınımıKSA (Küçük Açılı X-ışını Saçılımı)Elektron Paramanyetik Rezonans

İlgili referans kavramlar

Spektroskopik Malzeme KarakterizasyonuMalzeme KarakterizasyonuMalzemeler İçin Kırınım YöntemleriX-ışını ve Nötron KırınımıMalzemelerin Elektron MikroskobisiMineralojide X-ışını Kırınımı

Bu sayfada bir hata mı var? Bildir / düzeltme öner →

ScholarGate — EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure). 2026-07-21 tarihinde şu adresten erişildi: https://scholargate.app/tr/spectroscopy/exafs · Veri seti: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026
Hızlı bilgiler
Originator
Edward Stern
Subfamily
X-ray Spectroscopy
Year
1971
Type
Synchrotron technique
İlişkili yöntemler
ATR-FTIRKSA (Küçük Açılı X-ışını Saçılımı)XANES
ScholarGate

Araştırma yöntemleri için içerik öncelikli bir referans kütüphanesi — her yöntemin ne olduğu, nasıl çalıştığı ve nereden geldiği.

Açık veri (CC-BY)

Keşfet

  • Kütüphane
  • Yöntemlerde ara…
  • Alanlara göre gez
  • Alanlar
  • Yolculuk
  • Karşılaştır
  • Hangi yöntem?

Başvuru

  • Konular
  • Atlas
  • Sözlük
  • Metodoloji
  • Felsefe

Çalışma alanı

  • Kitaplığım
  • Masa
  • Sohbet

Şirket

  • Hakkımızda
  • Fiyatlandırma
  • İletişim
  • Yöntem öner

Kayıtlar, başvuru amacıyla yayımlanmış kaynaklardan derlenmiştir. Herhangi bir bilginin doğruluğunu ve kendi kullanımınıza uygunluğunu denetlemek sizin sorumluluğunuzdadır.

© 2026 ScholarGate · Araştırma yöntemleri referans kütüphanesi
  • Gizlilik
  • Çerezler
  • Koşullar
  • Hesabı sil