İçeriğe geçScholarGate
KütüphaneKitaplığımMasaReview StudioAsistan
Giriş
Bu sayfada
SezgiNasıl çalışırNe zaman kullanılırGüçlü yönler & sınırlılıklarYaygın tuzaklarUygulamalarSSS🔒 Tam yöntemi okuKaynaklarİlişkili yöntemler
Bu sayfaya atıf yapBu sayfada bir hata mı var? Bildir / düzeltme öner →
Ana sayfa›Malzeme bilimi›XRD Rietveld İyileştirmesi
Process / pipelineX-ray crystallography

XRD Rietveld İyileştirmesi

X-ray Diffraction Rietveld Refinement · Ayrıca şöyle bilinir: Rietveld refinement, powder diffraction refinement

XRD Rietveld İyileştirmesi, gözlemlenen ve hesaplanan kırınım desenlerini en küçük kareler iyileştirmesi yoluyla karşılaştırarak toz kırınım verilerinden ayrıntılı kristal yapı bilgileri çıkarmak için bir yöntemdir. 1969'da Hugo Rietveld tarafından geliştirilen bu teknik, tek kristallere gerek kalmadan doğrudan toz verilerinden atomik konumların, dolulukların, termal parametrelerin ve faz kesirlerinin belirlenmesini sağlar. Yapısal analiz, faz tanımlama ve niceleme için malzeme karakterizasyonunda standart yaklaşımdır.

ScholarGate
  1. Process / pipeline
  2. v1
  3. 3 Kaynaklar
  4. PUBLISHED
Bu sayfaya atıf yap →
Araçlar & kaynaklar
Slaytları indir
Öğren & keşfet

Tam yöntemi oku

Yalnızca üyeler

Bu bölümü okumak için ücretsiz hesapla giriş yapın.

Giriş yap

Yöntem haritası

İlişkili yöntemlerin komşuluğu — keşfetmek için bir düğüm seçin.

XRD Rietveld İyileştirmesi
CALPHADSeçilmiş Alan Elektron K…X-ışını Fotoelektron Spe…Yüzey Alanı (BET)Raman Ayrıştırması

Ne zaman kullanılır

Rietveld iyileştirmesi, özellikle tek kristallerin bulunmadığı durumlarda doğru kristal yapı belirlemesi için esastır. Nicel faz analizi, termal parametre çıkarımı ve düzensizlik veya bozulmaların incelenmesi için uygulayın. Nispeten basit kristal simetri ve iyi veri kalitesi gerektirir. Yüksek derecede düzensiz sistemler, karmaşık modüleli yapılar (özel uzantılar olmadan) veya yalnızca tarama tanımlaması gerektiğinde kaçının.

Güçlü yönler & sınırlılıklar

Güçlü yönler
  • Tek kristal gereksinimleri olmadan toz verilerinden hassas atom koordinatları ve termal parametreler verir
  • Karışımlardaki birden fazla fazı ve bunların hacim kesirlerini eş zamanlı olarak belirler
  • Hafif yapısal bozulmalara ve yerel simetri kırılmasına duyarlıdır
  • Standart sapmalar aracılığıyla nicel belirsizlik tahminleri sağlar
  • Olgun yazılımlara ve doğrulama uygulamalarına sahip iyi kurulmuş metodoloji
Sınırlılıklar
  • Başlangıç yapısal model gerektirir; tamamen bilinmeyen yapıları sıfırdan çözemez
  • Karmaşık kırınım desenlerindeki tepe çakışmasıyla sınırlı doğruluk
  • Hafif atomlar veya yüksek derecede anizotropik hareketler için termal parametre çıkarımı zordur
  • Hesaplama süresi, faz sayısı ve yapısal karmaşıklıkla önemli ölçüde artar
  • Dikkatli kısıtlama stratejileri gerektiren iyileştirilmiş parametreler arasındaki korelasyona eğilimlidir

SSS

Rietveld iyileştirmesi neden tamamen bilinmeyen yapılardan başlayamaz?

Yöntem, bu başlangıç noktasının etrafındaki parametreleri iyileştirdiği için başlangıçta yaklaşık bir model gerektirir. Bilinmeyen yapılar için, doğrudan yöntemler veya yük çevirme algoritmaları önce makul bir model oluşturmalı, ardından Rietveld iyileştirmesi onu iyileştirmelidir.

Rp, Rwp ve Ki-kare değerleri ne anlama geliyor?

Rp (profil faktörü) ve Rwp (ağırlıklı profil faktörü) uyum kalitesini ölçer; düşük değer daha iyidir. Ki-kare (uygunluk derecesi), gözlemlenen ve hesaplanan desen varyanslarını karşılaştırır. 1'e yakın bir Ki-kare, uygun bir modelin olduğunu gösterir; 2'den büyük değerler yetersiz arka plan modellemesi veya yanlış yapısal parametreler olduğunu düşündürür.

Eş zamanlı olarak kaç faz iyileştirilebilir?

Teorik olarak sınırsızdır, ancak pratikte 3-5 faz, tepe çakışması ve parametre korelasyonu sorunlu hale gelmeden yönetilebilir. Eklenen her faz, aynı kırınım sinyali için rekabet eden daha fazla parametre (kafes, atomlar, doluluklar) gerektirir.

Nötron kırınımı X-ışınından daha iyi sonuçlar verir mi?

Her ikisinin de avantajları vardır: X-ışını elektron yoğunluğuna duyarlıdır (ağır atomları tercih eder), nötron atom çekirdeklerine (hafif atomlar, hidrojen için daha iyidir). Manyetizma için nötronlar esastır. Seçim, hangi atom türlerinin veya olguların en önemli olduğuna bağlıdır.

Kaynaklar

  1. Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
  2. Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
  3. Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗

Bu sayfayı kaynak gösterin

ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/tr/materials-science/xrd-rietveld-refinement

İlişkili yöntemler

CALPHADSeçilmiş Alan Elektron KırınımıX-ışını Fotoelektron Spektroskopisi

Hangi yöntem?

Bu yöntemi en yakın akrabalarının yanına koyup yan yana okuyun — kütüphane kitapları masaya serer; seçim sizindir.

  • CALPHADMalzeme bilimi↔ karşılaştır
  • Seçilmiş Alan Elektron KırınımıMalzeme bilimi↔ karşılaştır
  • X-ışını Fotoelektron SpektroskopisiMalzeme bilimi↔ karşılaştır
Yan yana karşılaştır →

Bu yönteme atıf yapanlar

Yüzey Alanı (BET)CALPHADRaman AyrıştırmasıSeçilmiş Alan Elektron Kırınımı

Benzer yöntemler

Kristalografi (X-ışını kırınımı)Seçilmiş Alan Elektron KırınımıRaman AyrıştırmasıCALPHADEnerji Dağılımlı X-ışını SpektroskopisiEXAFSXANESX-ışını Fotoelektron Spektroskopisi

İlgili referans kavramlar

Malzemeler İçin Kırınım YöntemleriMineralojide X-ışını KırınımıMalzeme KarakterizasyonuX-ışını ve Nötron KırınımıKristalografi ve Mineral YapısıSpektroskopik Malzeme Karakterizasyonu

Bu sayfada bir hata mı var? Bildir / düzeltme öner →

ScholarGate — XRD Rietveld Refinement (X-ray Diffraction Rietveld Refinement). 2026-07-21 tarihinde şu adresten erişildi: https://scholargate.app/tr/materials-science/xrd-rietveld-refinement · Veri seti: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026
Hızlı bilgiler
Originator
Hugo Rietveld
Subfamily
X-ray crystallography
Year
1969
Type
Refinement method
İlişkili yöntemler
CALPHADSeçilmiş Alan Elektron KırınımıX-ışını Fotoelektron Spektroskopisi
ScholarGate

Araştırma yöntemleri için içerik öncelikli bir referans kütüphanesi — her yöntemin ne olduğu, nasıl çalıştığı ve nereden geldiği.

Açık veri (CC-BY)

Keşfet

  • Kütüphane
  • Yöntemlerde ara…
  • Alanlara göre gez
  • Alanlar
  • Yolculuk
  • Karşılaştır
  • Hangi yöntem?

Başvuru

  • Konular
  • Atlas
  • Sözlük
  • Metodoloji
  • Felsefe

Çalışma alanı

  • Kitaplığım
  • Masa
  • Sohbet

Şirket

  • Hakkımızda
  • Fiyatlandırma
  • İletişim
  • Yöntem öner

Kayıtlar, başvuru amacıyla yayımlanmış kaynaklardan derlenmiştir. Herhangi bir bilginin doğruluğunu ve kendi kullanımınıza uygunluğunu denetlemek sizin sorumluluğunuzdadır.

© 2026 ScholarGate · Araştırma yöntemleri referans kütüphanesi
  • Gizlilik
  • Çerezler
  • Koşullar
  • Hesabı sil