การสร้างชุดทดสอบอัตโนมัติ
การสร้างชุดทดสอบอัตโนมัติ (Automatic Test Pattern Generation: ATPG) คือกระบวนการสร้างเวกเตอร์ทดสอบโดยอัตโนมัติเพื่อตรวจจับข้อบกพร่องจากการผลิตในวงจรดิจิทัล ATPG ซึ่งริเริ่มโดย Roth ในปี 1966 เป็นวิธีการที่ค้นหาอินพุตที่ทำให้ความผิดพลาดแบบ stuck-at สามารถสังเกตได้ที่เอาต์พุตอย่างเป็นระบบ ช่วยให้สามารถตรวจจับความผิดพลาดได้อย่างครอบคลุม ATPG มีความสำคัญอย่างยิ่งต่อการผลิตเซมิคอนดักเตอร์ โดยช่วยให้มั่นใจได้ว่าชิปที่ส่งมอบมีคุณภาพสูงและสามารถระบุปัญหาในกระบวนการผลิตได้
อ่านวิธีฉบับเต็ม
เข้าสู่ระบบด้วยบัญชีฟรีเพื่ออ่านส่วนนี้
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
แหล่งอ้างอิง
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
วิธีอ้างอิงหน้านี้
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/th/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- การสังเคราะห์ลอจิกวิศวกรรมไฟฟ้า↔ compare
- การวิเคราะห์ความแปรผันของกระบวนการแบบมอนติคาร์โลวิศวกรรมไฟฟ้า↔ compare
- การวิเคราะห์เวลาแบบสถิตวิศวกรรมไฟฟ้า↔ compare