Monte Carlo-processvariation
Monte Carlo-processvariation-analys kvantifierar effekten av tillverkningsosäkerheter på krets prestanda med hjälp av statistisk sampling. Allt eftersom halvledarteknologin skalar, skapar processvariationer (gate-längd, oxidetjocklek, dopningsfluktuationer) betydande osäkerheter i fördröjning, effektförbrukning och läckström. Monte Carlo-metoder samplar variationsrymden slumpmässigt, vilket möjliggör statistisk karakterisering av utbyte (yield), timingmarginaler och tillförlitlighet. Väsentligt för moderna teknologinoder.
Läs hela metoden
Logga in med ett kostnadsfritt konto för att läsa avsnittet.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Källor
- Fishman, G. S. (1996). Monte Carlo: Concepts, Algorithms, and Applications. Springer-Verlag. DOI: 10.1007/978-1-4757-2553-7 ↗
- Nassif, S. R. (2003). Modeling and analysis of manufacturing variations. In Proc. CICC (pp. 223-228). IEEE. DOI: 10.1109/cicc.2001.929760 ↗
- Agarwal, A., Blaauw, D., Zolotov, V., & Sundareswaran, S. (2005). Statistical timing analysis with dual-Vth devices. IEEE Transactions on VLSI Systems, 13(3), 319-328. link ↗
Så citerar du den här sidan
ScholarGate. (2026, June 3). Monte Carlo Analysis of Semiconductor Process Variations. ScholarGate. https://scholargate.app/sv/electrical-engineering/monte-carlo-process-variation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Automatisk generering av testmönsterElektroteknik↔ compare
- Logisk syntesElektroteknik↔ compare
- Statisk tidsanalysElektroteknik↔ compare
Refereras av
Hittade du ett fel på sidan? Rapportera eller föreslå en rättelse →