Automatisk generering av testmönster
Automatisk generering av testmönster (ATPG) är den automatiserade skapandet av testvektorer som upptäcker tillverkningsfel i digitala kretsar. ATPG, som pionjärades av Roth 1966, hittar systematiskt indata som gör 'stuck-at'-fel observerbara vid utgångar, vilket möjliggör omfattande felfejldetektering. ATPG är avgörande för halvledartillverkning: hög testtäckning säkerställer att endast fungerande chip levereras och identifierar problem i tillverkningsprocessen.
Läs hela metoden
Logga in med ett kostnadsfritt konto för att läsa avsnittet.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Källor
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Så citerar du den här sidan
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/sv/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Logisk syntesElektroteknik↔ compare
- Monte Carlo-processvariationElektroteknik↔ compare
- Statisk tidsanalysElektroteknik↔ compare
Refereras av
Hittade du ett fel på sidan? Rapportera eller föreslå en rättelse →