ScholarGate
Assistent
Hypothesis testPanel unit-root tests (2nd gen)

PANIC-test: Panelanalys av enhetsrötter med dekomposition av gemensamma faktorer

PANIC (Panel Analysis of Non-stationarity in Idiosyncratic and Common Components) är ett andra generationens panelenhetsrotstest som introducerades av Bai och Ng (2004). Det dekomponerar varje panelserie i gemensamma faktorer och idiosynkratiska komponenter, och testar sedan för enhetsrötter i varje del separat. Detta gör testet robust mot tvärsnittsberoende – en kritisk begränsning hos första generationens tester som IPS eller LLC.

Tillämpa med EconMindSnartVideoSnartDownload slides

Läs hela metoden

Endast för medlemmar

Logga in med ett kostnadsfritt konto för att läsa avsnittet.

Logga in

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

PANIC-test: Panelanalys av enhetsrötter med dekomposition av gemensamma faktorer
Tvärsnittsmässigt utökad…CIPS-testetDynamisk faktormodell

Källor

  1. Bai, J., & Ng, S. (2004). A PANIC attack on unit roots and cointegration. Econometrica, 72(4), 1127–1177. DOI: 10.1111/j.1468-0262.2004.00528.x

Så citerar du den här sidan

ScholarGate. (2026, June 2). PANIC: Panel Analysis of Non-stationarity in Idiosyncratic and Common Components. ScholarGate. https://scholargate.app/sv/econometrics/panic-test

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

Refereras av

ScholarGatePANIC (PANIC: Panel Analysis of Non-stationarity in Idiosyncratic and Common Components). Hämtad 2026-06-15 från https://scholargate.app/sv/econometrics/panic-test · Datamängd: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026