Im-Pesaran-Shin (IPS) test za panelne jedinice korena
IPS test, koji su predstavili Im, Pesaran i Shin 2003. godine, jeste test za panelne jedinice korena (unit-root test) dizajniran za heterogene panele gde se autoregresivni koeficijent može razlikovati među poprečnim jedinicama. On prosečno računa individualne Augmented Dickey-Fuller (ADF) t-statistike i konstruiše standardizovanu statistiku sa graničnom normalnom distribucijom, čineći ga jednim od najšire primenjenih testova jedinica korena prve generacije u primenjenoj ekonometriji.
Pročitajte celu metodu
Prijavite se besplatnim nalogom da biste pročitali ovaj odeljak.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Izvori
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
Kako citirati ovu stranicu
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/sr/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Breitungov test za jedinicu korenaEkonometrija↔ compare
- CIPS TestEkonometrija↔ compare
- LLC (Levin-Lin-Chu) test za panelEkonometrija↔ compare
Citirana u
Uočili ste grešku na ovoj stranici? Prijavite je ili predložite ispravku →