Im-Pesaran-Shin (IPS) panelový test jednotkových koreňov
Test Im-Pesaran-Shin (IPS), ktorý predstavili Im, Pesaran a Shin v roku 2003, je panelový test jednotkových koreňov určený pre heterogénne panely, kde sa autoregresný koeficient môže líšiť naprieč prierezovými jednotkami. Spriemeruje individuálne t-štatistiky rozšíreného Dickeyho-Fullerovho testu (ADF) a skonštruuje štandardizovanú štatistiku so štandardným normálnym limitným rozdelením, čo z neho robí jeden z najpoužívanejších panelových testov jednotkových koreňov prvej generácie v aplikovanej ekonometrii.
Prečítať celú metódu
Ak si chcete prečítať túto sekciu, prihláste sa s bezplatným účtom.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Zdroje
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
Ako citovať túto stránku
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/sk/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Breitungov panelový test jednotkových koreňovEkonometria↔ compare
- CIPS TestEkonometria↔ compare
- Test stacionarity jednotiek panelu Levin-Lin-Chu (LLC)Ekonometria↔ compare
Odkazujú sem
Našli ste na tejto stránke chybu? Nahláste ju alebo navrhnite opravu →