Многомерный анализ пригодности процесса

Многомерный анализ пригодности процесса расширяет классические одномерные индексы пригодности (Cp, Cpk) на ситуации, когда процесс должен одновременно удовлетворять предельным значениям для двух или более коррелирующих характеристик качества. Вместо оценки каждого отклика в изоляции, он оценивает совместную вероятность того, что все характеристики попадают в свои соответствующие области допуска, что дает более реалистичную картину общей производительности процесса в производственных и инженерных условиях с множеством характеристик.