Процессная вариативность Монте-Карло
Анализ процессной вариативности Монте-Карло количественно оценивает влияние производственных неопределенностей на характеристики схемы с использованием статистической выборки. По мере масштабирования полупроводниковых технологий вариации технологического процесса (длина затвора, толщина диэлектрика, флуктуации легирования) создают значительные неопределенности в задержке, энергопотреблении и токах утечки. Методы Монте-Карло осуществляют выборку из пространства случайных вариаций, обеспечивая статистическую характеристику выхода годных, временных запасов и надежности. Это необходимо для современных технологических узлов.
Читать метод полностью
Войдите с бесплатным аккаунтом, чтобы прочитать этот раздел.
Карта метода
Окружение родственных методов — выберите узел, чтобы перейти к нему.
Источники
- Fishman, G. S. (1996). Monte Carlo: Concepts, Algorithms, and Applications. Springer-Verlag. DOI: 10.1007/978-1-4757-2553-7 ↗
- Nassif, S. R. (2003). Modeling and analysis of manufacturing variations. In Proc. CICC (pp. 223-228). IEEE. DOI: 10.1109/cicc.2001.929760 ↗
- Agarwal, A., Blaauw, D., Zolotov, V., & Sundareswaran, S. (2005). Statistical timing analysis with dual-Vth devices. IEEE Transactions on VLSI Systems, 13(3), 319-328. link ↗
Как цитировать эту страницу
ScholarGate. (2026, June 3). Monte Carlo Analysis of Semiconductor Process Variations. ScholarGate. https://scholargate.app/ru/electrical-engineering/monte-carlo-process-variation
Какой метод?
Поставьте этот метод рядом с ближайшими родственными и прочитайте их бок о бок — библиотека выкладывает книги на стол, а выбор за вами.
- Автоматическая генерация тестовых шаблоновЭлектротехника↔ сравнить
- Логический синтезЭлектротехника↔ сравнить
- Статический анализ времениЭлектротехника↔ сравнить
Упоминается в
Нашли ошибку на этой странице? Сообщите о ней или предложите исправление →