Автоматическая генерация тестовых шаблонов
Автоматическая генерация тестовых шаблонов (ATPG) — это автоматизированное создание тестовых векторов, которые обнаруживают производственные дефекты в цифровых схемах. Разработанная Роттом в 1966 году, ATPG систематически находит входные сигналы, которые делают дефекты типа «залипание» (stuck-at faults) наблюдаемыми на выходах, что обеспечивает всестороннее обнаружение неисправностей. ATPG имеет решающее значение для производства полупроводников: обеспечение высокого покрытия неисправностей гарантирует, что будут отправлены только исправные чипы, и выявляет проблемы производственного процесса.
Читать метод полностью
Войдите с бесплатным аккаунтом, чтобы прочитать этот раздел.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Источники
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Как цитировать эту страницу
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/ru/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Логический синтезЭлектротехника↔ compare
- Процессная вариативность Монте-КарлоЭлектротехника↔ compare
- Статический анализ времениЭлектротехника↔ compare
Упоминается в
Нашли ошибку на этой странице? Сообщите о ней или предложите исправление →